首页 » 技术SOS » 嵌入式系统 » 测试工具 » 跪求《基于单片机半导体器件特性测试电路的设计》

跪求《基于单片机半导体器件特性测试电路的设计》

菜鸟
2010-05-02 19:45:12     悬赏20分
其中阶梯波和集电极扫描电压由MCS89C51单片机实现。并且可调控!最好有详细电路图。 请高人指点!本人不甚感激!!!!!!!!!!!!!
分享
关键词: 单片机半导体器件特性测试电路, MCS89C51单片机  
院士
2010-05-06 11:28:47
1楼

现在的学生啊~ 早干嘛去了~

专家
2023-01-09 10:20:31
2楼

自己动动手

专家
2023-07-12 19:27:27
3楼

好好学习