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容易使用的4200-SCS型半导体特性分析系统用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程，这样用户可以更快地开始分析测试结果。其它一些特征使得应力测量功能能够满足各种可靠性测试的需求。

可选仪器：

* 4225-PMU超快I-V模块

* 4220-PGU脉冲发生器单元（仅电压源）

* 4225-RPM远程放大器/开关

* 4200-SMU中等功率源测量单元

* 用于4200-SCS的4210-SMU高功率源测量单元

* 用于4200-SMU和4210-SMU的4200-PA远程前置放大器选件

* 4210-CVU 1kHz - 10MHz电容电压测量单元

* 4200-SCP2双通道示波器卡

* 4200-SCP2HR 200MS双通道示波器卡

超快I-V应用套件：

* 4225-PMU超快I-V模块

应用指南：4200-SCS型半导体特性分析系统.pdf

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