这一刻，全功能触手可及实现可靠测量。

蔡司，成就这一刻。

ZEISS的O-INSPECT复合式测量机能够使您通 过光学或接触式对每个特性进行最佳测量。特 点：O-INSPECT在18-30℃的温度范围内提供 符合ISO标准的可靠三维精度。

O-INSPECT所具有的多功能性使其成为医疗技术、 塑料技术、电子与精密工程领域的理想检测方案。

ZEISS O-INSPECT 产品系列

O-INSPECT 322 测量范围 [dm] 3/2/2 E0 自1.6 μm

O-INSPECT 543 Measuring range [dm] 5/4/3 E0 from 1.6 m

O-INSPECT 863 测量范围 [dm] 8/6/3 E0 自1.9 μm

每一领域中的专家

ZEISS O-INSPECT能提供尖端光学和接触式性能–完全的三维软件， 不会出现任何的漏洞。CALYPSO软件不仅能够得到简单易懂的报告， 而且还能自动监测测量过程中产生的错误。

亮点

• VAST XXT 接触式连续扫描传感器
最小的探测力，最小的针尖直径，轮廓测量时，通过扫描能够得到更多测量点。

• ZEISS Discovery.V12 镜头: 视野范围大，无失真

• 白光传感器（选配）可以测量小而敏感的表面

• ZEISS CALYPSO 标准软件: 在一个视图中查看实时图像和结果，具有CAD比对功能

• 托盘系统与自动温度传感器

• 转台(选配)，可实现360°测量

视野范围大，提供绝佳的图像质量

ZEISS Discovery.V12 变焦镜头

ZEISS Discovery.V12 来自ZEISS的显微镜事业部

与常规镜头比较，提供四倍更大视场，即便于镜头周边区域亦可确保极佳图像质量 优点：减少测量时间并具有稳定的精度。

ZEISS Discovery.V12的大视野2/3英寸CCD。 比如，以一个孔为例，完全可以一次成像进行测量评价， 无需多次成像进行拼接再评价

标准镜头: 会产生图像失真

ZEISS Discovery.V12: 几乎无失真

图像对比

O-INSPECT照明系统

精确的结果需要高对比度成像。 为此，ZEISS O-INSPECT配备了高度可变的照明系统。 可以照亮不同的外形、材质和表面颜色， 也可以实现不同角度的照明， 并且边缘更加清晰可见。

底部光

底部光能产生最强的明暗对比度。 因此对于外边缘和通孔来说，它 是理想的照明解决方案。

同轴光照明

采用同轴光照明可以照亮小 的深孔并且准确地测量。

同轴镭射导航

镜头中心的镭射导航功能 可进行快速定位测量位置， 提高编程速度。

测量空间照明（选配）

无需担心周围环境光线不好， 测量空间照明系统可以帮助 测量人员解决困扰。

白光距离传感器

可以在 O-INSPECT上配备白光距离传感器。 它可用于三维结构的高效测量， 基于色阶共聚焦原理获取深度信息。 优点：不受材质的反光和透明的特性影响， 可以准确的得到被测表面的高度和轮廓信息。

塑料外壳

特殊结构侧视图

用于反光与透明材质

白光距离传感器可用于测量 反光或透明的对象，例如： 镜面，玻璃，亦可检测高吸 收率，无光泽表面。

五十分硬币的平面度扫描。

基于白光距离传感器以 光学方式获取 3D 结构

更多的测量点，更多的信息 VAST XXT 连续扫描传感器

O-INSPECT 配备灵活、快速及高精度 的VAST XXT 接触式连续扫描传感器， 不仅可实现单点测量，更可高效精确扫 描测量各类形状误差。

O-INSPECT拥有毫牛级别的探测 力，而其它复合式测量机只能使用 较高的探测力执行单点测量。 这样 的优势保证我们能够执行真正的 3D测量，并 获得快速、精确的测量结 果。

传感器的种类

有两种不同的传感器可供选择： VAST XXT TL1具有最小的探测力， 因此特别适合于扫描敏感工件，如 注塑成型的薄壁塑料件。VAST XXT TL3能够安装重量更大的探针，用 于大型工件的测量，具有更大的灵 活性。

探针的灵活选择

VAST XXT 支持30-125 mm 探 针，可实现深孔的快速测量。 65 mm的侧向探针可确保最佳的柔 性，实现不更换测针的条件下测 量具有复杂几何形状的工件。

快速更换探针

即便手动更换，该探针亦可自动 识别，无需耗时的重复校准。

使用星形测针，则不需要更换测针。

托盘上下料系统

对日常测量来说，方便性和可靠性至关重要。 托盘系统，O-INSPECT使用的标定物体和夹具为您提供更多的时间和可靠性。 特点：自动检查托盘上的工件温度并用于温度补偿。

校准托盘

可以于O-INSPECT校准托盘上安装校准球和玻璃校准片。 继而将整个托盘放在测量台上，则可以减少装夹的时间。

玻璃平板

玻璃平板用于表面光和底部光的产品测量， 适用于可以简单固定产品的夹具系统。

三明治孔板

三明治孔板用于表面光的测量， 支持接触式和光学测量。 夹具系统可以安装在此三明治孔板的螺纹孔中， 适用即简便又可靠。

转台

转台（选项）可以使O-INSPECT 执行轴向旋转， 从而实现产品全方位测量。

导轨装夹系统

工件的正确定位和牢固夹紧对于工件的 精确测量至关重要。 我们的导轨装夹系统使您能够在光学测 量中快速、简易地完成工件定位与装夹。

CARFIT CMK 夹具组件

使用CARFIT CMF夹具套盒， 可以容易地将部件安装在网格托盘上 规定的位置。所有CARFIT标准零部件 都相互兼容，并可以在短时间内发货。

多传感器标准器

多传感器标准器是用于检测接触式和 光学传感器的标准检测系统。 用于对配备有接触与光学传感器的坐 标测量机进行精度检验，同时提供相 关评估软件平台。

ZEISS CALYPSO

CALYPSO测量软件的使用确保了在一个视图 同时展现影像、CAD图、及测量结果。其灵 活性与简易性使得其处于测量技术关键地位。

O-INSPECT与 CALYPSO测量软件提供 全新的可视化功能，使O-INSPECT 全 面开启了测量机可视化的新纪元。 通过它们您可以同时查看实际状态、理 论状态及偏差，更快捷诠释测量结果。

所有任务使用一个软件

O-INSPECT 结合高品质的测量软件平台 体现更多的优势， 通过CALYPSO 软件同 时实现与其它蔡司三坐标测量机的程序共 享。 CALYPSO 使用通用的测量理念，结 合了大量的功能和灵活性。C A L Y P S O 使 您能够使用相同的方式快速、简单地完成 大量的测量工作。

CAD 面模型和可视化图像

CAD 线模型和可视化图像

CAD 模型、可视化图像、测量策略和偏差。

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