高灵敏度的TIA设计及验证 作者：贺建龙 时间：2014-04-01 来源：电子产品世界 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 <a href='//www.cazqn.com/ad/www/delivery/ck.php?n=a635e61e&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=88&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a635e61e' border='0' alt='' /></a> <a href='//www.cazqn.com/ad/www/delivery/ck.php?n=a576c0a2&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE' target='_blank'><img src='https://ad.eepw.com.cn/www/delivery/avw.php?zoneid=87&cb=INSERT_RANDOM_NUMBER_HERE&n=a576c0a2' border='0' alt='' /></a> 高灵敏度的TIA的电路设计和仿真验证本文引用地址：//www.cazqn.com/article/235719.htm 经过仔细思考，借鉴其它设计并激发灵感，设计出了一种具有高灵敏度的TIA电路。其具体的电路设计如图2所示。其特点在于将跨阻分为两部分R1与R2，并且插入一个对地的电阻网络R3与C1。其中运放的正负端电压选取0V用来减少参考点其对输出电压的干扰。在正端串联电阻R4可以减少运放输入偏置电流(μA量级)的影响。 假设运放为理想运放，令中间节点为X，具体的电路分析如下：
加入技术交流群
评论