新闻中心

EEPW首页 > 测试测量 > 设计应用 > 一种准确地预测由泄漏电流引起的PLL基准杂散噪声之简单方法(上)

一种准确地预测由泄漏电流引起的PLL基准杂散噪声之简单方法(上)

作者:Due To Leakage Current 时间:2014-04-01 来源:电子产品世界 收藏

  本文给出了一种简单的模型,可用来在系统中准确地预测由于充电泵和/或运算放大器泄漏电流引起的基准杂散噪声的大小。知道如何预测这类噪声有助于在系统设计的早期明智地选择环路参数。

本文引用地址://www.cazqn.com/article/235712.htm

  快速回顾

  锁相环(PLL)是一种负反馈系统,将一个相位和频率随温度和时间变化不够稳定的较高频电路(通常是一个压控振荡器)的相位和频率锁定到一个比较稳定和频率较低的电路(通常是一个温度补偿或恒温晶体振荡器,即TCXO或OCXO)上。作为一个黑盒子,PLL可以看作是一个频率倍增器。

  当需要高频本机振荡(LO)源时,会使用PLL。应用实例有很多,包括无线通信、医疗设备和仪表。



关键词: PLL VCO IC

评论


相关推荐

技术专区

关闭