三星HBM芯片据称通过英伟达测试 作者: 时间:2024-07-04 来源:财联社 加入技术交流群 扫码加入和技术大咖面对面交流海量资料库查询 收藏 财联社7月4日电,韩国媒体NewDaily报道称,三星电子的HBM3e芯片通过了英伟达的产品测试,三星将很快就大规模生产HBM并供应给英伟达一事展开谈判。本文引用地址://www.cazqn.com/article/202407/460643.htm
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