射频通道卡的创新架构实现了前所未有的多站点和站点内并行测量，可对当前和下一代射频设备进行大批量、低成本测试。

高速增长的无线通信市场带来了若干严峻的测试挑战。

基于射频的通信协议种类繁多，要求测试设备具有高度的通用性和可扩展性，以便为即将到来的新一代 5G 通信提供测试途径。

这些设备还必须具有低测试成本和高生产率的特点，以便更快地将新集成电路设计推向市场。

ADVANTEST的Wave Scale™一代射频通道卡使V93000单一可扩展平台在测试无线通信中使用的几乎所有射频和混合信号半导体器件时实现业界领先的并行性和吞吐量。

这些卡使 V93000 平台能够进行高度并行的多站点和站点内并行测试，实现前所未有的性能。

一体化测试解决方案

灵活的 Wave Scale 射频卡能够测试驱动 LTE、LTE-Advanced 和 LTE-A Pro 智能手机以及 LTE-M、WLAN、GPS、ZigBee、蓝牙和物联网无线应用的射频 SoC。 

除了满足当前的市场需求外，它还具有可扩展性，可应对未来 5G 网络的技术变化。

多站点和现场并行测试

Wave Scale RF 采用先进的架构，使其能够超越传统射频测试解决方案的能力。

其他系统每次只对每个站点的一种射频标准进行测试，而该射频卡可同时对每个 DUT 内的多种标准或多条路径进行测试。

它将这种独特的站内并行性与八倍站或更多站的测试能力和高多站效率相结合，大大降低了复杂射频设备的测试成本。

大批量能力

Wave Scale 射频卡每个板卡有四个独立的射频子系统，可以处理测试无线通信中使用的全部设备所需的单个刺激和测量频率。

每个射频子系统都有 8 个端口，可以扇出射频信号，最多可有 4 个独立的测量仪器。 

通过这种配置，四个射频子系统中的每一个都可用于八个站点，同时进行接收器和****测试，所有内部射频路径也可并行测试。 

该系统每张卡最多可处理 32 个站点，用于物联网、蓝牙和其他设备。创新的 V93000 测试处理器可控制和同步所有仪器的并行和独立操作。

该卡的 32 个射频端口均可支持高达 6 GHz 的 200 MHz 带宽。此外，内部环回和嵌入式校准标准为系统的高度集成架构做出了贡献。

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