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单一、可扩展的测试平台
在物联网、5G和人工智能时代,世界上制造的所有微芯片中有一半以上都由我们的设备进行测试。
作为业界领先的半导体设备自动化测试系统制造商,我们不断革新市场标准,使客户能够塑造他们的数字化未来。
我们的 V93000 平台解决了最新的行业挑战,并支持人工智能 (AI) 和高性能计算 (HPC)、医疗设备、高级驾驶辅助系统 (ADAS) 等应用,让世界更安全、更快速,让我们的生活更轻松。
得益于该平台的可扩展性和多代兼容性,V93000 能够适应未来并节省成本。
多合一平台涵盖各种不同的解决方案,如射频、数字、电源和模拟。
庞大的安装基础
爱德万测试始终专注于单一可扩展的平台战略,在工程和大批量制造中都开发了大量的V93000测试系统。
V93000 被领先的 IDM、铸造厂和设计公司广泛接受。外包 IDM 和无晶圆厂公司发现 V93000 的测试能力已安装在全球所有主要的 OSAT 中。
V93000 EXA 秤 - 新一代
V93000 EXA 级™ SoC 测试系统面向高达 exascale 性能等级的高级数字 IC。
V93000 的 EXA Scale 一代提供的解决方案支持新的测试方法,以应对这些先进数字设备的挑战,并提供更低的测试成本 (CoT) 和更快的上市时间 (TTM)。
当今最先进的半导体工艺允许技术转型,从而能够实时集成来自无数来源的数据,例如物联网和手持设备、汽车和大型服务器等。
随着移动处理器、高级驾驶辅助系统 (ADAS) 处理器、高性能计算 (HPC) 和人工智能 (AI) IC 的发展,正在处理的数据量和设备功率要求继续呈指数级增长。
随着这些进步,还需要解决新的测试挑战,包括爆炸性的扫描数据量、极端的功率要求、快速的良率学习、高引脚数和高多站点配置。
爱德万测试的新一代V93000 EXA Scale在成熟的V93000架构上进行了创新性改进,从而解决了这些挑战。
V93000 EXA 秤系统采用爱德万测试的专利 Xtreme Link 技术,这是一种专为自动测试设备 (ATE) 设计的通信网络。
该技术提供高速数据连接、嵌入式计算能力和即时卡对卡通信。
优点和好处
平台可扩展性可实现出色的设备产品组合覆盖,并在一个可扩展的测试平台中提供 CoT 优势
最广泛的兼容测试仪配置,从小尺寸工程系统扩展到非常高引脚数的晶圆分类和用于大批量制造 (HVM) 的最终测试系统,
业内最广泛的应用覆盖范围,从高性能计算(HPC)和AI,到移动和射频,再到汽车和工业。
跨代测试仪的兼容性可最大限度地提高测试容量利用率,并保护测试硬件的投资
探针卡和被测设备 (DUT) 板以及测试程序可用于 V93000 代,以提供:
.快速获得资格认证并过渡到新功能
.灵活地有效利用可用的测试能力
.为测试硬件(系统、仪器、探针卡和最终测试接口硬件)和测试工程基础设施、知识和培训提供投资保护
集成技术领先地位通过摩尔定律推动ATE创新
.V93000 采用创新的每引脚测试处理器和环保的水冷架构,经过四代产品的性能,为数字、模拟和射频仪器提供行业领先的引脚密度、可靠性以及测量稳定性和可重复性。
.提供针对性能和吞吐量进行优化的卓越解决方案
EXA 秤产品组合
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